問題詳情

17 下列有關粒子粒徑測定法之描述何者正確？
(A)一般鏡檢法範圍 0.5 ~ 100 µm
(B)過篩分析法範圍 0.5 ~ 100 µm
(C)沈降法範圍 0.5 ~ 1000 µm
(D)電阻法（coulter counter）範圍 0.5 ~ 1000 µm

參考答案

答案：A
難度：適中0.428571
統計：A(3),B(1),C(1),D(0),E(0)

用户評論

【用戶】小賢子

【年級】高三下

【評論內容】(A)  Optical Microscopy: 0.5~100 µm (B) Sieve analysis: 50~5000µm (C) Sedimentation 0.5~100µm 

【用戶】小賢子

【年級】高三下

【評論內容】(A)  Optical Microscopy: 0.5~100 µm (B) Sieve analysis: 50~5000µm (C) Sedimentation 0.5~100µm 

【用戶】hogebrad

【年級】小一下

【評論內容】coulter counter 我谷哥到是 0.4~1600µm

【用戶】柴

【年級】高三上

【評論內容】過篩50~5000鏡檢 光學:0.5~100         電子: 0.005~1氣體穿透 5~100氣體吸附 0.005~20Coulter Counter 1~100沉降 2~50