問題詳情

7 掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜法（SEM/EDX）是應用在下列那一種鑑定？
(A)無機元素分析
(B)有機化合物分析
(C)高分子化合物分析
(D)同分異構物分析

參考答案

答案：A
難度：適中0.62069
統計：A(126),B(27),C(12),D(4),E(0)

用户評論

【用戶】誠誠

【年級】高三下

【評論內容】掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜法SEM/EDS原理:利用聚焦後的電子束轟擊故定範圍的樣品表面，始掃描區域的各種電子、特性X射線、可見光等各種量子發射。用途:可偵測物證的個特性資料，常用於跡證觀察級元素分析。

【用戶】誠誠

【年級】大一上

【評論內容】掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜法SEM/EDS原理:利用聚焦後的電子束轟擊故定範圍的樣品表面，始掃描區域的各種電子、特性X射線、可見光等各種量子發射。用途:可偵測物證的個特性資料，常用於跡證觀察級元素分析。

【用戶】誠誠

【年級】大一上

【評論內容】掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜法SEM/EDS原理:利用聚焦後的電子束轟擊故定範圍的樣品表面，始掃描區域的各種電子、特性X射線、可見光等各種量子發射。用途:可偵測物證的個特性資料，常用於跡證觀察級元素分析。