問題詳情

36. 使用偵檢器測量 X 光機的半值層，偵檢器需至少離開其他物質 50 cm 以上，其目的何在？
(A)減少主射束到達偵檢器的強度
(B)減少主射束中低能光子到達偵檢器的強度
(C)較容易對正主射束
(D)避免散射光子影響測量準確性

參考答案

答案：D
難度：適中0.6
統計：A(2),B(10),C(1),D(24),E(0)