問題詳情

1.有關無損(非破壞, NDT)探傷中,對材料內部缺陷的探測厚度最淺者,下列敘述何者較正確?
(A)磁粉探傷
(B)渦流探傷
(C)射線探傷
(D)磁粉探傷

參考答案