問題詳情

25.有關掃描式電子顯微鏡及X-射線能譜分析，下列敘述何者正確？
(A) 可顯現射擊殘跡的形狀並能分析其特徵元素
(B) 它是以X-射線為光源
(C) 測量時檢體不必有導電性
(D) 電子顯微成像是因檢體表面產生二次電子及背向散射電子所引起
(E) 電子顯微鏡最大放大倍率與光學顯微鏡相當

參考答案

答案：A,D
難度：適中0.428571
統計：A(10),B(5),C(3),D(12),E(3)