問題詳情

44.下列何種檢驗法可用於待測物件內部缺陷之檢驗？
(A)螢光檢驗法
(B)超音波檢驗法
(C)磁粉探傷檢驗法
(D)渦電流檢驗法

參考答案

答案：B
難度：非常簡單0.96
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