問題詳情

16. 掃描電子顯微/X-射線能譜分析法(SEM /EDX)於射擊殘跡鑑識之應用，何者不適合？
(A)分析所含之鉛、銻、鋇等元素
(B)量測球形射擊殘跡顆粒之直徑
(C)硝化甘油和二硝基甲苯等成分之分析
(D)觀察射擊殘跡其顆粒之型態特徵

參考答案

答案：C
難度：適中0.643678
統計：A(3),B(9),C(56),D(4),E(0)