44. 在雙次抽樣計畫中：N=1,000、n1=50、c1=0、r1=2、n2=50、c2=1、r2=2；若已知批量 之不良率 p=2%，試問此雙次抽樣計畫之 ASN 為何？ (A) 86.4 (B)
45. 某電子零件之輸出電壓的規格上界為 40 V。此零件以 40 件為一批，欲使用 MIL-STD414 正常檢驗，檢驗水準 IV，AQL=1.8% 進行驗收抽樣。假設使用標準差法及型式 I 之 允
42.下列的敘述何者不正確？ (A) 貨批的抽樣檢驗可以採用簡單隨機抽樣法 (B) 抽樣的精髓在於希望透過少數的樣本推論母體的情形 (C) 若產品是由兩台可能不同性能的機器所生產，宜採用分層隨機抽樣法
43.下列有關MIL-STD-1916抽樣計畫的敘述，何者不正確？ (A) 可取代MIL-STD-105E、-414及-1235抽樣計畫表 (B) 仍沿用AQL允收品質水準 (C) 採用「零收一退」為
44.某產品重量之規格下限為5 Kg，已知產品重量符合常態分配，其中標準差未知。針對送驗批3500個產品，欲以MIL-STD-414減量檢驗，檢驗水準II，AQL=0.65 %進行驗收抽樣。假設使用標
24. 已知 4 組樣本之樣本大小為n1 = 200, n2 = 100, n3 = 150, n4 = 100，樣本不合格率分別為，若以此 4 組樣本估計平均不合格率，則不合格率管制圖(p char
41. 雙次抽樣計畫，n1 = 13、Ac1 = 0、Re1 = 2，n2 = 13、Ac2 = 1、Re2 = 2，貨批不合格率為 0.05，請以二項分配回答第一次抽樣後就拒收的機率?(取最接近數值
44. 若以平均數管制圖(chart))來管制某一產品重量。假設此時製程處於穩定狀態，若樣本數 n=4，經抽樣求得平均數管制圖之三倍標準差上、下管制界限分別為 202.0 g、196.0 g。試問製程
25. 關於缺點數管制圖(c chart)之敘述何者錯誤？ (A)每次的受檢單位大小是固定不變的 (B)受檢單位中，缺點數服從卜瓦松(Poisson)分配 (C)管制上界，其中c̅為平均缺點數 (D)
26. 有關不合格率管制圖(p chart)之敘述何者錯誤？ (A) 是根據二項分配計算其管制界限 (B) 不合格品發生的機率是固定的 (C) 連續生產的單位是獨立的 (D) 管制界限的寬度與樣本大小
27. 下列有關計數值與計量值管制圖之比較，何者錯誤？ (A) 相較之下，計量值管制圖提供關於製程績效更多有用的資訊 (B) 對於相同的偵測能力而言，計量值管制圖比計數值管制圖所需的樣本數較多 (C)
28. 對雙邊規格品質特性而言，若 Cpk 指標值等於 0 時，下列敘述何者正確? (A) 製程平均數位於規格界限上 (B) 製程平均數超出規格界限 (C) 製程平均數介於規格界限之間 (D) 與製程
29. 有關製程能力分析，下列何者為非? (A) 製程能力分析時，需確認製程在統計管制狀態下 (B) 當製程平均數發生變化時，會影響 Cp 指標值 (C) 單獨使用 Cpk 指標無法正確量測製程平均數
31. 最早提出驗收抽樣觀念的二位學者為何? (A) Juran and Gryna (B) Juran and Deming (C) Box and Wilson (D) Dodge and Rom