85. 關於流動注入分析(FIA)系統的敘述,下列哪些正確(A)乃是利用樣品注入閥將樣品溶液注入載送液中,並與試劑混合反應後進行偵測(B)FIA系統中最常使用的是蠕動式泵(C)最常使用的為旋轉式樣品注
86. 有關極譜分析法的半波電位,下列敘述哪些正確(A)半波電位是擴散電流為極限擴散電流一半時的電極電位(B)半波電位相同的,都是同一種物質(C)半波電位與其樣品溶液的組成有關(D)半波電位是極譜定量
87. 下列哪些是影響毛細管電泳分離之主要因素(A)pH 值(B)偵測器種類(C)毛細管管徑(D)操作電壓。
88. 下列哪些光譜分析法與發射無關?(A)紫外光光譜分析法(B)可見光光譜分析法(C)螢光光譜分析法(D)紅外光光譜分析法。
89. 下列哪些方法可降低恆電位電解的濃差極化(A)增加工作電極面積(B)提高溶液的溫度(C)加強機械攪拌(D)降低溶液的濃度。
90. 以電位分析法測定金屬物質時,可使用哪些電極(A)汞(B)鉑(C)鎢(D)塗佈薄汞膜的玻璃碳。
91. 欲以 AAS 火焰法分析水中鎘時,若溶液中含高濃度 NaCl 時,會形成下列哪些干擾(A)分子吸收(B)散射(C)霧化效率改變(D)離子化干擾。
92. 熱重量分析法可提供下列哪些資訊(A)判斷樣品的熱反應為吸熱或放熱(B)由逸出氣體可了解樣品組成(C)可分析混合物樣品的組成及含量(D)可量測樣品的質量改變。
93. 下列哪些方法可用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾(A)連續光源校正法(B)Zeeman 效應法(C)Smith- Hieftje校正法(D)加入內標物校正。
2. 儀器失火時最好使用下列何者東西滅火?(A)乾粉滅火器(B)CO2滅火器(C)泡沫滅火器(D)防火砂。
3. 皮膚生成水泡程度之火傷屬(A)一級火傷(B)二級火傷(C)三級火傷(D)未達火傷級數。
94. 以 AAS 火焰法分析金屬時,哪些可以去除化學性干擾(A)加入釋放劑(B)採用背景校正(C)採用較高溫的火焰(D)採用較低溫的火焰。
95. 以原子發射光譜法進行元素定量分析時,下列哪些不是加入內標物的目的(A)提高靈敏度(B)提高準確度(C)減少化學干擾(D)降低背景。
96. 下列有關極譜分析法的敘述,哪些錯誤(A)加入支持電解質是為了消除遷移電流發生(B)濃差極化的大小取決於支持電解質的濃度(C)濃差極化後,擴散電流的大小取決於離子的擴散速度(D)極限擴散電流的大
97. 下列哪些元件伏安測定法會使用(A)伏特計(B)離子選擇電極(C)電導計(D)汞電極。
4. 散在地板上的汞應先以下列何物覆蓋再加以處理?(A)硫黃(B)氯化鈣(C)碳酸鈉(D)氯化鈉。
5. 下列試藥何者毒性最強(A)苯(B)甲苯(C)二甲苯(D)苯甲酸。
98. 下列哪些光譜方法適用於研究固體的表面組成(A)AAS(B)XRF(C)NMR(D)AES。
6. 下列有關酒精燈的使用方法何者有誤(A)以漏斗加燃料酒精到容器的八分滿(B)酒精溢出時應擦拭乾燥(C)用一只酒精燈的火點燃另一只酒精燈(D)使用酒精燈的燈蓋套上熄火。
99. 下列哪些是原子螢光光譜法與 X 螢光光譜法的不同處(A)光致發光(B)光源(C)單色器(D)偵測器。
7. 金屬鈉等特殊金屬所生火災的滅火,應使用(A)水(B)二氧化碳泡沫(C)四氯化碳(D)乾粉。
8. 過氧化氫溶液的濃度超過多少百分比時即具危險性(A)20(B)30(C)40(D)50。
9. 下列何者不為決定分析系統誤差(system error)之方法(A)空白分析(B)重覆分析(C)標準添加分析(D)標準參考物質(standard reference material)分析。
100. 在電解分析中,為使被測物質純淨、致密、堅固地沉積在電極上,可採用下列哪些措施(A)控制適當的 pH 或以錯合金屬離子形式電解(B)升高溫度(C)反應的電流密度不宜過小(D)攪拌溶液。
101. 下列哪些是氣相層析儀的偵測器(A)光散射偵測器(B)熱傳導偵測器(C)電漿原子偵測器(D)火燄游離偵測器。