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• 21. 螢光探傷法是檢驗 (A)銀點 (B)脆化 (C)外觀 (D)龜裂 。
• 22. 銲蝕產生的原因是 (A)電流太大 (B)電流太小 (C)銲條運行太寬 (D)銲條運行太慢 。
• 23. 平銲時銲淚產生的原因是 (A)電流太大 (B)電流太小 (C)銲速太快 (D)母材不清潔 。
• 24. 柱狀結晶產生的原因是 (A)銲道冷卻過速 (B)電流太小 (C)運行速度太快 (D)電弧長度不正確 。
• 25. 合金鋼預熱的目的是 (A)提高銲速 (B)改善銲接性 (C)提高熔著率 (D)提高強度。
• 26. 層間溫度主要是 (A)提高熱能 (B)提高熔著率 (C)提高銲速 (D)控制冷卻速率 。
• 27. 後熱的目的是預防產生 (A)銲蝕 (B)銲淚 (C)龜裂 (D)夾渣 。
• 28. 碳鋼銲道缺陷最快的鏟除方法是 (A)機械鏟除法 (B)火陷挖除法 (C)碳弧挖除法(D)氣鏨鏟除法 。
• 29. 在放射線檢驗之底片上，銲道中如有氣孔，底片上會呈現 (A)白點 (B)黑點 (C)黃點 (D)紅點 。
• 30. 銲接後產生龜裂的主要原因是 (A)熱應力 (B)殘留應力 (C)剪應力 (D)疲勞破壞
• 31. 拉力試驗之目的主要是試驗 (A)銲工技能 (B)材料韌性 (C)材料硬度 (D)材料強度 。
• 32. 導彎試驗時，陽模自銲道根部加壓的試驗稱為 (A)面彎 (B)背彎 (C)側彎 (D)根彎。
• 33. 試板（管）經銲接後，銲道表面高度應 (A)略低於母材 (B)略高於母材 (C)高於母材 3.2 公厘以上 (D)低於母材 2 公厘以上 。
• 34. 銲道鎚擊作用之主要目的是 (A)打平銲道 (B)去除銲渣 (C)去除火花飛濺物 (D)消除殘留應力 。
• 35. 試片經導彎試驗後凸面任何方向之裂紋總長不得超過 (A)1.2 公厘 (B)2.2 公厘(C)3.2 公厘 (D)4.2 公厘 。
• 36. 屬於非破壞性檢驗法的是 (A)衝擊試驗 (B)放射線檢驗 (C)拉力試驗 (D)化學試驗 。
• 37. 屬於破壞性檢驗法的是 (A)放射線檢驗 (B)外觀檢查 (C)磁粉探傷法 (D)彎曲試驗 。
• 38. 下列非破壞性檢驗法中檢查銲道內部最簡便的是 (A)磁粉探傷檢驗 (B)X 光檢驗 (C)水壓試驗 (D)超音波檢驗 。
• 39. 磁粉探傷檢驗法最適用於 (A)碳鋼 (B)不銹鋼 (C)鋁 (D)銅 。
• 40. 滲透劑檢驗法中之清潔液為 (A)透明 (B)白色 (C)紅色 (D)黃色 。
• 41. 滲透劑檢驗法中之顯像液為 (A)透明 (B)白色 (C)紅色 (D)黃 。
• 42. 銲道表面附近龜裂最適宜的檢驗方法是 (A)放射線檢驗 (B)超音波檢驗 (C)真空試驗 (D)滲透劑檢驗 。
• 43. 放射線檢驗法中之同位素射線稱為 (A)α射線 (B)β射線 (C)γ射線 (D)Ｘ射線。
• 44. 為了防止放射線之外洩，檢驗室須加裝 (A)鋁板 (B)鉛板 (C)銅板 (D)鋼板 。
• 45. 在品質的檢驗上，鉚接比銲接 (A)容易 (B)困難 (C)完全相同 (D)應用設備較多 。