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(B)發散光譜:檢品直接當光源

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24.下列有關原子發散光譜測定法（atomic emission spectrophotometry, AES）的敘述，何者錯 誤？ (A)其原理為當原子受熱激發後，會產生特定波長之輻射 (B)離子化程度、檢品黏度等因素可能干擾AES之結果 (C)此方法可應用於各種金屬原子 (D)原子發散光譜之譜線極窄 編輯私有筆記及自訂標籤專技 - 藥物分析與生藥學(包括中藥學)- 105 年 - 105-1-藥師(一)-藥物分析與生藥學(包括中藥學)#41270答案：C 難度：簡單統計： A(56),B(46),C(2082),D(213),E(0) #1151408個人： 尚未作答(C)僅限1A、2A金屬16.下列何種因素不會對原子發散光譜測定法（atomic emission spectrophotometry）產生干 擾？ (A)檢品黏度改變 (B)檢品中含有陰離子 (C)檢品...

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41 測定製劑中之微量金屬殘存量，最適合用下列何種方法測定之？ (A)焰光發散光度法 (B)原子吸收光譜法 (C)螢光光譜法 (D)紅外光譜法 編輯私有筆記及自訂標籤藥物分析- 97 年 - 097-1-藥師-藥物分析#9975答案：B 難度：適中統計： A(12),B(65),C(4),D(2),E(0) #414203個人： 尚未作答33下列有關螢光光譜法（Fluorometry）之敘述，何者錯誤？ (A)係測定激態電子返回基態所發散出之光 (B)通常發散光較入射光之波長為長 (C)檢體濃度越高時，螢光強度亦越大 (D)測定時入射光（Incident radiation）與發散光（Emission radiation）在同一線上 編輯私有筆記及自訂標籤專技 - 藥事行政與法規- 90 年 - 90-檢覈1-藥物分析及藥事法規#37...