【Daniel Boaven】評論
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。
【Jean Lee】評論
(A) 平整度的檢驗以 3 m 長的直規或平坦 儀進行。(B) 面層完成面任一點的高低差不得超過 ±0.3 cm。(C) 鋪面完成後每 1000 m2,鑽取一件樣品。(D) 檢測後任何一點之厚度不得少於設計厚 度 10% 以上。